6.1 Analýza kmitočtově selektivních povrchůZákladní teorieV tomto článku se budeme věnovat způsobu výpočtu
koeficientu odrazu
a
koeficientu prostupu
pro nekonečně rozlehlý periodický
kmitočtově selektivní povrch.
Zaměříme se přitom na povrch, sestávající se z obdélníkových elementů (kovových a štěrbinových). Nejdříve budeme předpokládat,
že povrch je vyroben z dielektrického substrátu, který má stejné parametry jako prostředí, v němž je povrch umístěn. Na závěr se
v poznámce zmíníme, jak lze analyzovat povrch v případě reálného substrátu (s parametry odlišnými od okolního prostředí).
Numerická analýza kmitočtově selektivních povrchů
Kmitočtově selektivní povrchy můžeme v podstatě analyzovat dvěma způsoby. První způsob vychází z
metody indukovaných elektromotorických napětí
a umožňuje analyzovat povrchy jak konečně tak nekonečně rozlehlé (nejčastěji se však používá pouze její varianta pro nekonečně
rozlehlý případ). Analýza technikou indukovaných elektromotorických napětí zde nebude popisována, lze ji však nalézt v
[17].
Druhý způsob, jak numericky analyzovat kmitočtově selektivní povrchy, vychází z
momentové metody ve spektrální oblasti
[18]. Na tuto metodu se soustředíme v našem článku.
|
Obr. 6.1A.1 | Souřadný systém pro analýzu kmitočtově selektivního povrchu (vlevo). Elementární buňka s rozměry a, b (vpravo). |
|
Kovové elementy
Uvažujme periodický selektivní povrch podle obr. 6.1A.1. Na povrch dopadá rovinná vlna. Průmět
vlnového vektoru
k do roviny povrchu je označen kxy. Elektrickou intenzitu dopadající vlny lze pak vyjádřit
následovně:
|
.
|
( 6.1A.1 )
|
Zde α0, β0 jsou záporné průměty vlnového
vektoru dopadající vlny do směrů souřadných os x a y (v našem výkladu budeme totiž předpokládat
znaménkovou konvenci
exp(+jkr), kdy při postupu vlny ve směru šíření její fáze narůstá.). Pro průměty vlnového vektoru v zavedeném souřadném
systému platí
|
,
.
|
|
Symbol E0 značí vektor intenzity elektrického pole v počátku souřadného systému a k je
vlnové číslo
ve volném prostoru.
Dopadající vlna má obecně jak
rovnoběžnou polarizaci
tak
polarizaci kolmou.
Pokud vyjádříme intenzitu dopadající vlny v
kulovém souřadném systému
(viz obr. 6.1A.1), budou složky EϑI a
EφI představovat přímo rovnoběžnou složku a složku kolmou.
Pro následnou analýzu
kmitočtově selektivního povrchu
je nutné znát složky vektoru elektrické intenzity v rovině xy. Ty lze získat ze známých
EϑI a EφI
následovně:
|
.
|
( 6.1A.2 )
|
Protože je povrch periodický, můžeme všechny potřebné veličiny (intenzita elektrického pole, proudová hustota) v rovině
xy vyjádřit pomocí
Fourierovy řady.
Pomocí Fourierova rozvoje nejprve vyjádříme hustotu elektrického proudu J [A/m] tekoucího na kovovém elementu:
|
,
|
( 6.1A.3 )
|
kde
|
|
( 6.1A.4 )
|
představují tzv.
prostorové kmitočty.
Tyto prostorové kmitočty jsou prostorovou analogií k časovému úhlovému kmitočtu ω, který
používáme při časové analýze signálů. Rozdíl je pouze v tom, že časové periodě T nyní odpovídají prostorové periody
a a b.
Koeficienty
Fourierovy řady
lze získat integrací proudové hustoty přes plochu buňky (jedná se o zpětnou Fourierovu transformaci, s níž se setkáváme
např. při časové analýze signálů)
|
.
|
( 6.1A.5 )
|
Obdobně jako proudovou hustotu lze pomocí
Fourierovy řady
vyjádřit libovolnou veličinu, která je periodická. To je případ dalšího odstavce, v němž bude ve spektrální oblasti (tj. v oblasti
prostorových kmitočtů)
vyjádřeno buzení kmitočtově selektivního povrchu
rovinnou vlnou.
Našim cílem přitom bude určit odrazné vlastnosti selektivního povrchu.
Formulace problému
Uvažujme
rovinnou vlnu,
která dopadá na kmitočtově selektivní povrch pod úhly (ϑ, φ).
Tato vlna vybudí v kovových elementech proudy, které vytvoří tzv.
rozptýlené pole
ES.
|
Obr. 6.1A.2 | Kmitočtově selektivní povrch (odražená a prostupující vlna) |
|
Zatímco velikost (ne fáze) intenzity dopadající vlny EI je konstantní po celé ploše elementární
buňky, velikost intenzity vlny rozptýlené ES je v různých místech buňky různá. Vztah mezi
ES a EI se přitom mění podle toho, jaká v daném místě povrchová impedance.
Na povrchu kovových elementů platí
kde γ [S.m-1] je elektrická vodivost elementů. Uvažujeme-li dokonalou elektrickou vodivost
kovových elementů (elektrická vodivost se bude blížit nekonečnu), pravá strana (6.1A.6) se bude blížit nule, takže v limitě
dostáváme
Intenzitu rozptýleného elektrického pole ES v bodě, jehož pozice je dána polohovým vektorem r,
lze vypočíst pomocí
vektorového potenciálu
A
|
.
|
( 6.1A.8 )
|
Zdrojem vektorového potenciálu A jsou proudy J, indukované dopadající vlnou na kovových elementech kmitočtově
selektivního povrchu. Příspěvek proudu v bodě r’ k potenciálu v bodě r je přitom popsán
Greenovou funkcí
G. Pro vektorový potenciál tak dostáváme vztah
|
.
|
( 6.1A.9 )
|
Pro případ volného prostoru má
Greenova funkce
G tvar
|
.
|
( 6.1A.10 )
|
Vzájemnou kombinací vztahů (6.1A.9), (6.1A.8) a (6.1A.7) získáme integrální rovnici pro elektrické pole v prostorové
oblasti:
|
.
|
( 6.1A.11 )
|
Rovnici (6.1A.11) budeme řešit v oblasti
prostorových kmitočtů.
Převod (6.1A.11) do spektrální oblasti vykonáme ve dvou krocích. Nejprve převedeme rovnici (6.1A.8) jejím rozepsáním do složkového
tvaru a vyjádřením
vektorového potenciálu
pomocí
Fourierovy řady.
Tím dostáváme [19]
|
.
|
( 6.1A.12 )
|
V druhém kroku převedeme vztah do oblasti
prostorových kmitočtů
(6.1A.9) [19]
|
.
|
( 6.1A.13 )
|
Výpočtem Fourierovy transformace funkce (6.1A.10) bychom obdrželi [19]
Greenovu funkci
ve spektrální oblasti
|
,
|
( 6.1A.14 )
|
kde z odmocniny se uvažuje jen řešení se zápornou imaginární částí.
Vzájemnou kombinací (6.1A.13), (6.1A.14) a (6.1A.12) dostaneme výsledný vztah pro elektrické pole ve spektrální oblasti
|
.
|
( 6.1A.15 )
|
Řešení problému
Při řešení problému nejprve v rovnici (6.1A.15) aproximujeme neznámé rozložení proudové hustoty pomocí vhodně zvolených
bázových funkcí
a v tuto chvíli neznámých aproximačních koeficientů. Takovou formální aproximaci dosadíme do řešeného vztahu (6.1A.15).
Jelikož aproximace řešení nesplňuje výchozí vztah zcela přesně, musíme tuto skutečnost respektovat přičtením zbytkové funkce
(rezidua).
Čím menších hodnot zbytková funkce nabývá, tím přesnější je nalezená aproximace. K minimalizaci rezidua přitom využijeme
Galerkinovu metodu
(reziduum postupně násobíme tolika bázovými funkcemi, kolik je neznámých aproximačních koeficientů; tak dostaneme soustavu
N lineárních algebraických rovnic pro N neznámých aproximačních koeficientů).
Při volbě bázových funkcí existují v zásadě dva přístupy. První z nich používá bázové funkce, které nabývají nenulových
hodnot na celé analyzované oblasti. Tyto funkce jsou voleny tak, aby fyzikálně odpovídaly
stojatým vlnám
proudu na elementu.
Druhý přístup dělí analyzovanou oblast na menší podoblasti, na nichž je proud aproximován pomocí bázových funkcí, jejichž
funkční hodnota je nenulová jen na dané podoblasti. Výhoda tohoto přístupu spočívá v tom, že lze snadno analyzovat kmitočtově
selektivní povrchy s libovolně tvarovanými elementy.
V našem článku se budeme zabývat pouze první skupinou bázových funkcí. Konkrétně za bázové funkce zvolíme harmonické funkce
(první přístup, vrstva B) a harmonické funkce v kombinaci s Čebyševovými polynomy (druhý přístup,
vrstva B).
Podrobnější popis využití výše uvedených
bázových funkcí
při řešení rovnice (6.1A.15) uvádíme ve vrstvě B. Zde, na základní úrovni učebnice, se seznámíme jen s dosaženými výsledky.
Harmonické bázové funkce
Uvažujme
kmitočtově selektivní povrch,
sestávající z pravoúhlých dokonale vodivých elementů o rozměrech a’ a b’. Aproximujeme-li rozložení proudu na elementu
pomocí harmonických bázových funkcí, dostáváme pro vid (1, 1) pro
rovnoběžnou polarizaci
rozložení proudu, vykreslené na obr. 6.1A.3a, a pro
polarizaci kolmou
rozložení z obr. 6.1A.3b.
|
a) | b) |
Obr. 6.1A.3 | Směrové pole proudové hustoty vidu (1,1)
a) pro rovnoběžnou polarizaci (vlevo) b) pro kolmou polarizaci
Rozměry buňky jsou a=b=12mm, rozměry kovového elementu jsou a' = b' = 12mm; f = 10GHz, ϑ = 1°, φ = 45°, d = 1.5mm, εr = 3.7. Velikost okrajových proudů byla uměle zmenšena oproti skutečnosti. Poloha roviny dopadu je vyznačena červeně. |
|
Harmonické funkce v kombinaci s Čebyševovými polynomy
|
Obr. 6.1A.4 | Náhradní obvodové schéma selektivního povrchu v kmitočtové oblasti; povrch sestává z kovových elementů (vlevo); ϑ = φ = 0.
Činitel směrovosti ve Smithově diagramu (vpravo). |
|
Rozdíl oproti ryze harmonickým bázovým funkcím
spočívá v tom, že namísto funkce kosinus použijeme Čebyševův polynom, který na hranách elementu dosahuje nekonečných hodnot. Tak je zajištěno věrné
modelování velkých proudů tekoucích po hranách.
Chování kmitočtově selektivního povrchu
s kovovými elementy lze popsat také pomocí jeho ekvivalentního obvodu, v němž indukčnost elementů spolu s kapacitou mezi konci
elementů tvoří sériový rezonanční obvod (obr. 6.1A.4). Činitele odrazu ρ, který je vykreslen
v obr. 6.1A.4, počítáme podle vztahu
|
,
|
( 6.1A.16 )
|
kde PI je výkon dopadajícího vlnění a PT značí výkon vlnění, které povrchem
prošlo do pravého poloprostoru. Odporem o hodnotě 377 Ω modelujeme volný prostor před povrchem (vlevo)
a za povrchem (vpravo).
|
a) | b) |
Obr. 6.1A.5 | Povrch s obdélníkovými elementy, laděno pro 10 GHz, rovnoběžná polarizace.
a) kolmý dopad ϑ = 0°, φ = 90° b) nekolmý dopad ϑ = 45°, φ = 90°
|
|
Chování činitele odrazu
povrchu pro
rovnoběžnou polarizaci
je ukázáno v obr. 6.1A.5. Zajímavý je přitom případ bez dielektrika
(b = 21 mm, a = 7.5 mm, b’ = 19.75 mm, a’ = 1.5 mm),
kdy okolo 14.3 GHz dochází ke zlomu ve strmosti křivky činitele odrazu; to je způsobeno vybuzením prvního
parazitního vidu
(tzv. grating lobe).
Přidáním dielektrika a modifikací rozměrů (b = 17 mm, a = 7.5 mm, b’ = 15.75 mm,
a’ = 1.5 mm, tloušťka substrátu d = 1.57 mm) nastane mírný pokles selektivity, ale zvětší se stabilita
naladění povrchu pro nekolmý dopad (viz obr. 6.1A.5b). Dalšího zvětšení stability činitele odrazu na úhel dopadu by bylo možné
dosáhnout přidáním horní dielektrické vrstvy. Díky přítomnosti dielektrika je rozměr buňky menší a parazitní vid se tedy budí na vyšším kmitočtu
(17.6 GHz). V obr. 6.1A.5b však není vliv tohoto vidu příliš patrný.
Jak pro kolmý tak pro nekolmý dochází na vyšších kmitočtech ke vzniku parazitních rezonancí. Na kmitočtech vyšších
než je kmitočet vzniku prvního
parazitního vidu
už vynesený činitel odrazu nevystihuje celkovou intenzitu odražené vlny, ale pouze intenzitu
základního vidu (0,0).
Při buzení povrchu
kolmou polarizací
(na rozdíl od
rovnoběžné polarizace)
je činitel odrazu téměř nezávislý na úhlu dopadu (viz obr. 6.1A.6). Pro případ bez dielektrika uvažujeme rozměry
b = 21 mm, a = 7.5 mm, b’ = 19.75 mm, a’ = 1.5 mm,
pro případ s dielektrikem uvažujeme b = 17 mm, a = 7.5 mm, b’ = 15.75 mm,
a’ = 1.5 mm a tloušťku substrátu d = 1.57 mm.
|
Obr. 6.1A.6 | Povrch s obdélníkovými elementy, laděno na 10GHz, nekolmý dopad ϑ = 45°, φ = 0°, kolmá polarizace. |
|
Štěrbinové elementy
Na rozdíl od povrchů s kovovými elementy vykazují
kmitočtově selektivní povrchy
se štěrbinami opačnou závislost činitele odrazu, tj. mají charakter pásmové zádrže. Pro případ bez dielektrika a pro případ
s jednou metalickou vrstvou jsou tyto povrchy přesným komplementem povrchů s kovovými elementy.
|
povrch 1 | | povrch 2 |
Obr. 6.1A.7 | Komplementární chování povrchů se štěrbinami a kovovými prvky. Činitel odrazu povrchu s kovovými prvky (1) je roven činiteli prostupu povrchu se štěrbinami (2). |
|
Na tomto místě by bylo možné uvést duální odvození rovnice pro magnetickou intenzitu na apertuře povrchu se štěrbinami
ve spektrální oblasti. Pokud se omezíme na případ bez dielektrika s jednou metalickou vrstvu, stačí uplatnit
princip duality
a rovnici pro magnetickou intenzitu získat z (6.1A.15) záměnou E ↔ H, ε ↔ μ,
J ↔ JM
|
.
|
( 6.1A.17 )
|
Při porovnání (6.1A.17) s rovnicí (6.1A.15) však čtenář zjistí nesrovnalost týkající se přítomnosti dvojky u hustoty
magnetického proudu a budící magnetické intenzity. Kromě
principu duality
jsme totiž museli uvážit následující skutečnost.
Pole vyzařované elektrickými proudy u povrchu s kovovými prvky (angl. “scattered field”) není těmito prvky rozptylováno.
Zatímco magnetické proudy ve štěrbinách produkují pole, které je elektricky vodivou plochou rozptylováno
[19]. Aby se zahrnul i vliv okolní elektrické plochy, je nutné provést následující postup:
- Nejprve pouze nahradíme originální proudy elektrické proudem magnetickým (tekoucím na ploše odpovídající štěrbině). Hustotu
magnetického proudu lze přitom spočítat aplikací vztahu JM+ = z
× Eap, kde Eap je intenzita elektrického pole
v apertuře (zde je nutné poznamenat, že podobně jako u proudu elektrického teče u i reálně tlustého magnetického vodiče proud pouze
na jedné straně štěrbiny, a to na straně levé).
- Nyní budeme předpokládat, že do štěrbiny umístíme ideální elektrický vodič, a vyrobíme tím tak nekonečně rozlehlou zemní plochu.
Na tomto místě je nutné říci, že situace se tím nijak nezmění. Čtenář bude mít asi pocit, že dojde “ke zkratu” elektrického pole,
které je generováno plošným magnetickým proudem (podle pravidla levé ruky). Není to však pravda, neboť na rozhraní dvou prostředí,
tj. vzduchu a kovu platí mezi tečnými elektrickými intenzitami vztah .
Intenzita v kovu je přitom nulová.
- V posledním kroku se pouze aplikuje princip zrcadlení, čímž se převede problém v prostředním obrázku na problém ve volném
prostoru (obr. 6.1A.8 vpravo).
|
původní problém po zavedení magnetického proudu |
rozprostření zemní plochy a uvažování pouze levé poloroviny |
aplikace principu zrcadlení |
Obr. 6.1A.8 | Vysvětlení principu ekvivalence |
|
Podobně jako v případě kovových elementů je zde možné duálně formulovat
činitel prostupu
τ. Definice zde však nebude provedena, neboť by byla analogická s definicí, která byla provedena u
činitele odrazu.
V obr. 6.1A.9 uvádíme příklad na kolmý dopad vlny na
kmitočtově selektivní povrch
se štěrbinami pro povrch ve vakuu (b = 21 mm, a = 7.5 mm, b’ = 19.75 mm, a’ = 1.5 mm) a pro povrch
na dielektrickém substrátu (b = 14 mm, a = 7.5 mm, b’ = 13.25 mm, a’ = 1.5 mm a tloušťku substrátu
d = 1.57 mm). Je zde vidět, že selektivita křivky
činitele prostupu
je v přítomnosti dielektrika lepší než pro případ εr = 1 (na rozdíl od povrchu s
kovovými elementy, kde tomu bylo naopak). Dále platí, že vliv dielektrika je jiný než u povrchu s kovovými elementy, takže
štěrbiny mají jiné rozměry než tomu bylo u povrchu s kovovými obdélníkovými elementy s dielektrikem. Přítomnost dielektrika je
také zodpovědná za nenulovou hodnotu činitele odrazu na rezonančním kmitočtu. Stejně jako v předchozích případech, i zde se vyskytují
parazitní vidy.
Závěr
Technika pro analýzu
kmitočtově selektivní povrchů,
popsaná v této kapitole, nezahrnuje vliv dielektrika. Uvedené příklady však tento vliv postihují, jak je popsáno v
[17]. Jiný popis vlivu dielektrika lze nalézt v [19].
Reálné aplikace využívají několik selektivních povrchů řazených za sebou. Pak totiž dojde k podstatnému zlepšení selektivity.
Návrh vícevrstvých povrchů však není jednoduchý.
Kmitočtově selektivní povrchy
lze také omezeně modelovat v komerčních programech, založených na
metodě konečných prvků
(HFSS) nebo na metodě momentů (IE3D). V obou případech se díky periodicitě analyzuje pouze jedna buňka.
Při návrhu
kmitočtově selektivních povrchů
je bezpodmínečně nutná znalost jejich fyzikálního chování a znalost omezení, které tyto povrchy mají. Bez takové znalosti je návrh
povrchů jenom hra s čísly.
|
prostup | odraz |
Obr. 6.1A.9 | Povrch s obdélníkovými štěrbinami, laděno na 10GHz, kolmý dopad, ϑ = 0° φ = 90°, kolmá polarizace |
|
|